其他X射线结构表征

XRD / PDF / SAXS Complete Characterization System

多尺度X射线结构表征体系,从晶体结构到纳米尺度的完整分析

服务概述

RAY ORIGIN 提供完整的X射线结构表征体系,包括原位XRD、SAXS(小角X射线散射)和PDF(对分布函数)等多种技术。我们能够从原子尺度到纳米尺度,为客户提供全面的结构信息。

我们的表征服务特别适用于能源材料、催化材料、纳米材料、聚合物材料等领域,能够提供材料在不同环境条件下的结构演变信息。

表征方法

原位/准原位 XRD

  • • 晶体结构演变与相变监测
  • • 电池充放电结构分析
  • • 高温、应变条件下的晶体学研究
  • • 实时相变追踪
  • • 晶格参数精确测定

SAXS 分析

  • • 孔结构、粒径分布
  • • 比表面积、孔径分布反演
  • • 聚合物、硬碳、纳米颗粒
  • • 形貌参数定量分析
  • • 分形维数计算

PDF 分析

  • • 无序材料、短程结构解析
  • • 碳材料、MOF、玻璃、纳米材料
  • • 局域结构信息提取
  • • 原子间距分布分析
  • • 非晶态材料表征

技术特色

多尺度表征

从原子尺度(PDF)到纳米尺度(SAXS)的完整结构信息,实现材料结构的全方位表征。

原位测试能力

具备多种原位测试环境,可实时监测材料在实际工作条件下的结构演变过程。

定量分析

提供精确的定量结构参数,包括晶格常数、晶粒尺寸、应力分布、孔径分布等。

专业软件

使用专业分析软件进行数据处理,确保结果的准确性和可靠性。

联系我们

如需X射线结构表征服务,请通过以下方式联系我们:

微信同号:13530902970

立即咨询表征服务